{"subject":"[陽明校區] 穿透式電子顯微鏡 (TEM) JEM-1400plus","detailContent":"
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\"穿透式電子顯微鏡
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","dataClassName":null,"pubUnitName":"儀器資源中心","posterDate":null,"updateDate":"115-06-30","liaisonper":null,"liaisontel":"65455","liaisonfax":null,"liaisonemail":null,"languageurl":null,"page1Title":"儀器介紹","page1":"
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穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope – TEM) 具備高解像能力，影像解析度可達0.14nm,倍率百萬倍以上，比一般影像觀察及分析工具優越許多，而廣泛地用於材料分析。包含半導體、金屬、陶瓷、…等材料之微結構分析、微區成分分析、製程分析、故障分析及生醫試片的內部結構及組織分析缺陷之觀察。
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    \r\n\t
  1. 穿透式電子顯微鏡 JEOL JEM-1400 PLUS\r\n\t
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    • 電子槍加速電壓 Accelerating Voltage\r\n\t\t
        \r\n\t\t\t
      • 1-1電壓範圍至少40~120KV
        • \r\n\t\t\t
      • 1-2使用LaB6(六硼化鑭)燈絲
        • \r\n\t\t
      \r\n\t\t
      • \r\n\t\t
    • 解析度：Lattice resolution ≦ 0.14nm
      • \r\n\t\t
    • 放大倍率：X10~X1500000倍
      • \r\n\t\t
    • 樣品移動載台 Specimen Stage：5軸馬達驅動（shift x/y, tilt x/y, z-height）
      • \r\n\t
    \r\n\t
    2. \r\n\t
  2. 數位影像系統 GATAN 832 SC1000B\r\n\t
      \r\n\t\t
    • CCD主體尺寸 >= 36mm x 24mm
      • \r\n\t\t
    • CCD像素大小 >= 4008 x 2672 pixels, each pixel 9um x 9um
      • \r\n\t
    \r\n\t
    3. \r\n\t
  3. 能量分散光譜儀 OXFORD EDS X-Max 80T\r\n\t
      \r\n\t\t
    • 感測器有效偵測面積 Single sensor 80mm2
      • \r\n\t\t
    • 解析力 127eV
      • \r\n\t
    \r\n\t
    4. \r\n\t
  4. 三維斷層影像重構系統\r\n\t
      \r\n\t\t
    • TEM 模式自動影像擷取軟體（Recording for TEM mode）
      • \r\n\t\t
    • 64位元 TEM三維重構軟體（Reconstruction software）
      • \r\n\t\t
    • 64位元 TEM三維可視化軟體（Visualizer software）
      • \r\n\t
    \r\n\t
    5. \r\n
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","page2Title":"使用資格","page2":"
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","page3Title":"使用程序","page3":"
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    \r\n\t
  1. 符合使用資格者，應先瞭解儀器設置及工作環境概況後，上網預約使用時間。
    2. \r\n\t
  2. 使用者於第一次使用各儀器時，將由有關技術人員從旁協助，以避免操作上的錯誤與困擾
    3. \r\n\t
  3. 使用者爾後使用各儀器時，若有任何技術上困難，請立即知會技術人員，切勿自行嘗試操作。
    4. \r\n\t
  4. 各項儀器均附有簡易明瞭的操作程序與注意事項，務請按照程序操作與使用，未經指示之旋（按）鈕開關，請切勿自行嘗試轉動。
    5. \r\n\t
  5. 使用JEOL JEM-1400plus請自備光碟片儲存實驗資料
    6. \r\n\t
  6. 研究實驗所使用的標本，請自行保留或清理，切勿留置於工作檯面，以免受污損或丟棄
    7. \r\n\t
  7. 使用完畢，請通知技術人員，並按指示，一切歸回原位，並記錄下任何有關事項。
    8. \r\n\t
  8. 使用者於論文發表時，需於致謝中提及「國立陽明交通大學電子顯微鏡設備之支援」或 This work was supported in part by the Electron Microscopy Facility in National Yang Ming Chiao Tung University。
    9. \r\n
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\r\n本規則經電子顯微鏡使用管理委員會會議通過實施，修正時亦同。
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","page4Title":"預約規則","page4":"
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預約規則
 週一週二週三週四週五
上午時段V技術人員上機技術人員上機(校外)技術人員上機技術人員上機
下午時段VVVVV
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\r\nV：認證者可預約自行操作上機
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","page5Title":"收費標準","page5":"
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","page6Title":"電顯室介紹","page6":"
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電顯室設備
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    \r\n\t
  1. JEOL JEM-1400plus 穿透式電子顯微鏡
    2. \r\n\t
  2. JEOL JSM-7600F 超高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
    3. \r\n\t
  3. JFC-1200 Auto Fine Coater鍍金機(黃金)
    4. \r\n\t
  4. JFC-1600 Auto Fine Coater鍍金機(白金)
    5. \r\n\t
  5. Vacuum Evaporator (JEE-400) 真空蒸著器
    6. \r\n\t
  6. Tousimis PVT-3B 、Tousimis PVT-3D 臨界點乾燥機
    7. \r\n\t
  7. Leica EM UC7 超薄切片機
    8. \r\n
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電顯室服務項目
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    \r\n\t
  1. TEM (JEOL JEM-1400plus)上機操作及照相、EDS元素分析、3D Tomography (3D影像重構時間另安排)
    2. \r\n\t
  2. SEM (JEOL JSM-7600F)上機操作及照相
    3. \r\n\t
  3. 臨界點乾燥、鍍白金、鍍黃金
    4. \r\n\t
  4. 超薄切片
    5. \r\n
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\r\n\r\n
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技術人員上機操作時段（新使用者）
 週一週二週三週四週五
上午時段JEM-1400plus
\r\n\t\t\t(TEM)		JEM-1400plus
\r\n\t\t\t(TEM)		JEM-1400plus
\r\n\t\t\t(TEM)校外		JEM-1400plus
\r\n\t\t\t(TEM)		JEM-1400plus
\r\n\t\t\t(TEM)
下午時段JSM-7600F
\r\n\t\t\t(SEM)		CPD臨界點乾燥JEM-1400plus
\r\n\t\t\t(TEM)		JSM-7600F
\r\n\t\t\t(SEM) 校外		JSM-7600F
\r\n\t\t\t(SEM)
\r\n
\r\n
\r\n\r\n
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\r\n 
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