<![CDATA[[陽明校區] 穿透式電子顯微鏡 (TEM) JEM-1400plus]]><![CDATA[<div class="ed_model05 clearfix">
<div class="ed_pic_right"><img alt="穿透式電子顯微鏡 JEM-1400plus" src="/userfiles/ordch/images/20231013124610948.jpg" /></div>
<ul>
<li class="ed_txt"><strong>Transmission Electron Microscope</strong>
<ul>
<li class="ed_txt">廠牌型號：JEOL JEM-1400plus</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt"><strong>儀器位置：陽明校區 </strong>實驗大樓2F. B104室</li>
<li class="ed_txt"><strong>管理單位：</strong>解剖所 鄭瓊娟 老師
<ul>
<li class="ed_txt">校內分機 67072</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt"><strong>管理人員：電顯室負責人</strong>
<ul>
<li class="ed_txt"><strong>張璧妃 副工程師</strong>（分機65455）</li>
<li class="ed_txt"><strong>何淑儷 技士</strong>（校內分機 65235）</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt"><strong>使用資格：請洽電顯室負責人張小姐（分機65455）</strong>
<ul>
<li class="ed_txt">校內預約使用</li>
<li class="ed_txt">校外請先聯繫儀器負責人</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt"><strong>預約 >>> <a href="http://ircbooking.nycu.edu.tw/IRC/irc_booking/booking_login.aspx" rel="noreferrer noopener" target="_blank" title="儀器預約系統(開啟新視窗)">儀器預約系統</a></strong></li>
</ul>
<div class="ed_txt"> </div>
</div>]]>儀器資源中心115-06-3065455儀器介紹<div class="ed_model01 clearfix">
<div class="ed_txt"><strong>穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope – TEM)</strong> 具備高解像能力，影像解析度可達0.14nm,倍率百萬倍以上，比一般影像觀察及分析工具優越許多，而廣泛地用於材料分析。包含半導體、金屬、陶瓷、…等材料之微結構分析、微區成分分析、製程分析、故障分析及生醫試片的內部結構及組織分析缺陷之觀察。<br />
</div>
<ol>
<li class="ed_txt">穿透式電子顯微鏡 JEOL JEM-1400 PLUS
<ul>
<li class="ed_txt">電子槍加速電壓 Accelerating Voltage
<ul>
<li class="ed_txt">1-1電壓範圍至少40~120KV</li>
<li class="ed_txt">1-2使用LaB6(六硼化鑭)燈絲</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt">解析度：Lattice resolution ≦ 0.14nm</li>
<li class="ed_txt">放大倍率：X10~X1500000倍</li>
<li class="ed_txt">樣品移動載台 Specimen Stage：5軸馬達驅動（shift x/y, tilt x/y, z-height）</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt">數位影像系統 GATAN 832 SC1000B
<ul>
<li class="ed_txt">CCD主體尺寸 >= 36mm x 24mm</li>
<li class="ed_txt">CCD像素大小 >= 4008 x 2672 pixels, each pixel 9um x 9um</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt">能量分散光譜儀 OXFORD EDS X-Max 80T
<ul>
<li class="ed_txt">感測器有效偵測面積 Single sensor 80mm2</li>
<li class="ed_txt">解析力 127eV</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt">三維斷層影像重構系統
<ul>
<li class="ed_txt">TEM 模式自動影像擷取軟體（Recording for TEM mode）</li>
<li class="ed_txt">64位元 TEM三維重構軟體（Reconstruction software）</li>
<li class="ed_txt">64位元 TEM三維可視化軟體（Visualizer software）</li>
</ul>
</li>
</ol>
</div>使用資格<div class="ed_model01 clearfix">
<ul>
<li class="ed_txt">凡本校（含榮總）人員，於研究或教學上有其需要，並合乎下列情形中任何一項者，皆可提出申請使用：
<ul>
<li class="ed_txt">曾使用過同類型電子顯微鏡，其操作技術經電子顯微鏡室負責人或技術人員認可者。</li>
<li class="ed_txt">曾有非同類型電子顯微鏡使用經驗，經協助後熟悉操作，其技術經電子顯微鏡室負責人或技術人員認可者。</li>
<li class="ed_txt">經由訓練課程研習而熟悉操作，其技術經電子顯微鏡室負責人或技術人員認可者。</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt">校外人員欲使用電子顯微鏡或相關儀器 ，得視校內人員使用時間是否足夠而定，並向電子顯微鏡室負責人提出申請。</li>
<li class="ed_txt">若人為使用不當，以致損壞機器，由該研究室主持人負責。</li>
</ul>
</div>使用程序<div class="ed_model01 clearfix">
<ol>
<li class="ed_txt">符合使用資格者，應先瞭解儀器設置及工作環境概況後，上網預約使用時間。</li>
<li class="ed_txt">使用者於第一次使用各儀器時，將由有關技術人員從旁協助，以避免操作上的錯誤與困擾</li>
<li class="ed_txt">使用者爾後使用各儀器時，若有任何技術上困難，請立即知會技術人員，切勿自行嘗試操作。</li>
<li class="ed_txt">各項儀器均附有簡易明瞭的操作程序與注意事項，務請按照程序操作與使用，未經指示之旋（按）鈕開關，請切勿自行嘗試轉動。</li>
<li class="ed_txt">使用JEOL JEM-1400plus請自備光碟片儲存實驗資料</li>
<li class="ed_txt">研究實驗所使用的標本，請自行保留或清理，切勿留置於工作檯面，以免受污損或丟棄</li>
<li class="ed_txt">使用完畢，請通知技術人員，並按指示，一切歸回原位，並記錄下任何有關事項。</li>
<li class="ed_txt">使用者於論文發表時，需於致謝中提及「國立陽明交通大學電子顯微鏡設備之支援」或 This work was supported in part by the Electron Microscopy Facility in National Yang Ming Chiao Tung University。</li>
</ol>
<div class="ed_txt"><br />
本規則經電子顯微鏡使用管理委員會會議通過實施，修正時亦同。</div>
</div>預約規則<div class="ed_model19 clearfix">
<div class="table03">
<table class="ed_table caption-top" summary="預約規則">
<tbody>
</tbody>
<caption>預約規則</caption>
<tbody>
<tr>
<th scope="col"> </th>
<th scope="col">週一</th>
<th scope="col">週二</th>
<th scope="col">週三</th>
<th scope="col">週四</th>
<th scope="col">週五</th>
</tr>
<tr>
<th scope="row">上午時段</th>
<td data-th="週一">V</td>
<td data-th="週二">技術人員上機</td>
<td data-th="週三">技術人員上機(校外)</td>
<td data-th="週四">技術人員上機</td>
<td data-th="週五">技術人員上機</td>
</tr>
<tr>
<th scope="row">下午時段</th>
<td data-th="週一">V</td>
<td data-th="週二">V</td>
<td data-th="週三">V</td>
<td data-th="週四">V</td>
<td data-th="週五">V</td>
</tr>
</tbody>
</table>
</div>
</div>
<div class="ed_model01 clearfix">
<div class="ed_txt"><br />
V：認證者可預約自行操作上機</div>
<ul>
<li class="ed_txt">每星期一至五，上午八點半至下午五點，除上述時間外(為技術人員帶新使用者上機操作)，均開放經認證通過者預約自行操作使用(EDS、3D Tomography由技術人員操作)，每位使用者每週以使用4小時為原則。</li>
<li class="ed_txt">星期三如無校外使用者預約，開放TEM校內使用者上機。</li>
<li class="ed_txt">使用時間採預約登記，請上<a href="http://ircbooking.nycu.edu.tw/IRC/irc_booking/booking_login.aspx" rel="noreferrer noopener" target="_blank" title="儀器資源中心網站(開啟新視窗)">儀器資源中心網站</a>預約，若有疑問請來電洽詢，校內分機65455(張璧妃副工程師)或65235(何淑儷技士)。</li>
<li class="ed_txt">經預約排定時間後，若因故未能使用，請務必於前一日網路取消預約時段。若連續二次預約而未使用者，則停止使用權利二個月。</li>
</ul>
</div>收費標準<div class="ed_model01 clearfix">
<ul>
<li class="ed_txt">電子顯微鏡與其它相關儀器的使用，所需相關儀器的維護及材料的消耗，將由各使用人分擔，收費標準如下：
<ul>
<li class="ed_txt">TEM上機（JEOL JEM-1400plus）：NT$1050 /每小時(校內使用者依使用情形另有優惠)(校外使用者 NT$2100 /每小時)</li>
<li class="ed_txt">TEM上機（JEOL JEM-1400plus）加EDS：NT$1250 /每小時(校內使用者依使用情形另有優惠)(校外使用者 NT$2500 /每小時)。</li>
<li class="ed_txt">3D Tomography：NT$1050 /每小時(校外使用者 NT$2100 /每小時)；影像重構分析暫不收費，視使用情況召開會議訂定。</li>
<li class="ed_txt"><strong>檢測時間不足一小時以一小時計費；因故未取消預約時段及當日未到者，一律收取第一小時費用。</strong></li>
<li class="ed_txt">TEM標本超薄切片：校內教師研究計畫每個標本 NT$3,000（每個標本給4個銅網，不含染色。）</li>
<li class="ed_txt">使用超薄切片機：製備玻璃刀之玻璃條請自備，或每條以 NT$360 計費。</li>
</ul>
</li>
<li class="ed_txt">若人為使用不當，以致損壞機器，由該研究室主持人負責。</li>
</ul>
</div>電顯室介紹<div class="ed_model01 clearfix">
<div class="ed_txt"><strong>電顯室設備</strong></div>
<ol>
<li class="ed_txt"><a href="#" title="JEOL JEM-1400plus 穿透式電子顯微鏡">JEOL JEM-1400plus 穿透式電子顯微鏡</a></li>
<li class="ed_txt"><a href="/ord/ch/app/machine/view?module=machine&id=1765&serno=17bff6e2-c4c5-4390-a3e6-c75685141c02" title="JEOL JSM-7600F 超高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡">JEOL JSM-7600F 超高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡</a></li>
<li class="ed_txt">JFC-1200 Auto Fine Coater鍍金機(黃金)</li>
<li class="ed_txt">JFC-1600 Auto Fine Coater鍍金機(白金)</li>
<li class="ed_txt">Vacuum Evaporator (JEE-400) 真空蒸著器</li>
<li class="ed_txt">Tousimis PVT-3B 、Tousimis PVT-3D 臨界點乾燥機</li>
<li class="ed_txt"><a href="/ord/ch/app/machine/view?module=machine&id=1781&serno=94c83b93-53a9-4270-83fd-ae83c040972b" title="Leica EM UC7 超薄切片機">Leica EM UC7 超薄切片機</a></li>
</ol>
<div class="ed_txt"><strong>電顯室服務項目</strong></div>
<ol>
<li class="ed_txt">TEM (JEOL JEM-1400plus)上機操作及照相、EDS元素分析、3D Tomography (3D影像重構時間另安排)</li>
<li class="ed_txt">SEM (JEOL JSM-7600F)上機操作及照相</li>
<li class="ed_txt">臨界點乾燥、鍍白金、鍍黃金</li>
<li class="ed_txt">超薄切片</li>
</ol>
</div>
<div class="ed_model19 clearfix">
<div class="table03">
<table class="ed_table caption-top" summary="電顯室設備">
<tbody>
</tbody>
<caption>技術人員上機操作時段（新使用者）</caption>
<tbody>
<tr>
<th scope="col"> </th>
<th scope="col">週一</th>
<th scope="col">週二</th>
<th scope="col">週三</th>
<th scope="col">週四</th>
<th scope="col">週五</th>
</tr>
<tr>
<th scope="row">上午時段</th>
<td data-th="週一">JEM-1400plus<br />
(TEM)</td>
<td data-th="週二">JEM-1400plus<br />
(TEM)</td>
<td data-th="週三">JEM-1400plus<br />
(TEM)校外</td>
<td data-th="週四">JEM-1400plus<br />
(TEM)</td>
<td data-th="週五">JEM-1400plus<br />
(TEM)</td>
</tr>
<tr>
<th scope="row">下午時段</th>
<td data-th="週一">JSM-7600F<br />
(SEM)</td>
<td data-th="週二">CPD臨界點乾燥</td>
<td data-th="週三">JEM-1400plus<br />
(TEM)</td>
<td data-th="週四">JSM-7600F<br />
(SEM) 校外</td>
<td data-th="週五">JSM-7600F<br />
(SEM)</td>
</tr>
</tbody>
</table>
</div>
</div>
<div class="ed_model01 clearfix">
<div class="ed_txt"><br />
</div>
</div>https://www.nycu.edu.tw/ord/ch/app/machine/image?module=machine&detailNo=1162253025822117888&init=Y穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) JEM-1400plushttps://ord.nycu.edu.tw/ord/ch/app/artwebsite/view?module=artwebsite&id=1752&serno=4d94c595-2732-408d-9e9f-ee9f12d73bcd陽明校區儀器列表https://ord.nycu.edu.tw/ord/ch/app/machine/list?module=machine&id=1765電子顯微鏡類