基礎服務-材料領域
EN- 更新日期：114-08-27
- 發布單位：儀器資源中心
【材料領域】場發射穿透式電子顯微鏡 FE-TEM / EM001200
- Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)
- 廠牌型號：JOEL, JEM-F200
- 儀器專家：吳文偉 教授
- 分機 55395
- 儀器諮詢與操作服務：歐大正 先生
- 分機 55371
- 信箱 tem55371@nycu.edu.tw
- 儀器位置：光復校區 工程六館108室
儀器廠牌、型號、購置年限
廠牌：JEOL
型號：JEM-F200
購置年限：五年，2016/12/1購置
重要規格
廠牌：JEOL
型號：JEM-F200
購置年限：五年，2016/12/1購置
重要規格
- 電子槍：ZrO/W(100) Schottky type
- 最大加速電壓：200kV
- 放大倍率：x50~x2M
- Point resolution：<=0.23nm
- Lattice resolution：<=0.1nm
- 最大傾轉角度：+35~-35度
服務項目
TEM：材料試片之微細組織，晶體結構之缺陷觀察，擇區繞射定結晶結構。
儀器訓練操作申請須知
TEM：材料試片之微細組織，晶體結構之缺陷觀察，擇區繞射定結晶結構。
儀器訓練操作申請須知
- 申請人需為博士班學生且已通過JEOL2000FX TEM之考核。
- 申請順序依通過JEOL2000FX TEM之考核日期為先後順序。
- 訓練時間TEM需要6個時段。訓練結束之後可向技術員預約時間練習並考照。
- 通過考核後可自行操作；未通過考核之前除技術員或助教在旁協助，嚴禁自行操作。
儀器操作預約：請至國科會基礎研究核心設施預約服務管理系統預約
| 週一 | 週二 | 週三 | 週四 | 週五 | 週六 | 週日 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 上午 (08:30至12:00) | 校外委託 | 校外委託 | 校外委託 | 校外委託 | 校外委託 | A執照者 | A執照者 |
| 中午 (13:30至17:00) | 訓練 | 校內委託 | B執照者 | B執照者 | B執照者 | B執照者 | B執照者 |
| 晚上 | A執照者 | 機台訓練 | A執照者 | A執照者 | A執照者 | A執照者 | A執照者 |
系統開放等級
A級：可預約時間自行操作。博士班學生並通過JEOL2000FX考核者可申請接受訓練，通過執照考核後取得A級資格。
D級：委託服務，由技術員操作。委託時段請參閱”開放時間表”
系統開放等級說明
- A級：開放給需要使用之學生，經訓練考核後可自行操作。
- B級：每位教授指派一位學生申請訓練，該教授之其他學生需由接受訓練的學生代為操作，若有教授使用該儀器之學生過多者，可向儀器負責人申請增加接受訓練學生人數。
- C級：由儀器負責人選定教授推薦之學生若干人接受訓練，經考核後可自行操作儀器並得負責委託服務工作。
- D級：由本實驗室之技術人員接受委託服務，不開放使用。
收費標準（單位：NTD）
- TEM
- 計畫預約
- 委託操作：$4,000 /次
- 自行操作：$2,000 /次
- 拍照：$15 /張
- EDS：$75 /點、$100 /線、$150 /面
- 非計畫預約
- 委託操作：$20,000/次
- 自行操作：$15,000 /次
- 拍照：$150 /張
- EDS：$150 /點、$200 /線、$300 /面
管理及使用辦法
- 本實驗室非TEM試片製作單位，請先準備可觀察之TEM試片來進行實驗。試片需自行準備，直徑為3mm且厚度小於300nm。
- 待測樣品應為固態材料且應具有適當、足夠的機械強度，以避免在進出電鏡或在檢測的操作過程中，發生剝落、碎裂的狀況，恕不受理。
- 低熔點的材料如銦、錫等，會產生相變及蒸鍍效應，恕不受理。
- 在電子束照射下會分解或釋出氣體且礙及真空之樣品，如有機物、高分子、生物性或鐵磁性粉末樣品等，恕不受理。
- 具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末形式樣品或材料，如鐵、鈷、鎳…等粉體，恕不受理。
- 具有放射性或毒性之樣品，恕不受理。
- 所有以水溶液滴到銅網上樣品，皆需要經過充分乾燥除去水氣；樣品送到本實驗室後，仍需經過本實驗室人員再次烘烤十分鐘後才可以上機。若因試片充滿水氣而造成機台汙染，則預約單位需要共同負擔機台維修費用。
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